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掃描電子顯微鏡 FlexSEM 1000 II

    詳細說明

    特點
    FlexSEM 1000 II,憑借全新設計的電子光學系統和高靈敏度檢測器,可在加速電壓20 kV下實現4.0 nm的分辨率。全新開發的用戶界面,具有亮度和對焦自動調節功能,可以在短時間內進行各種觀察。此外,還搭載了全新的導航功能“SEM MAP”,這個功能可彌補電子顯微鏡上難以找準視野的缺點,實現最直觀的視野移動。
    盡管是可放置在桌面上的小巧緊湊型*1電子顯微鏡,仍可實現4.0 nm的分辨率
    憑借獨特的高靈敏度二次電子、背散射電子檢測器、低真空檢測器(UVD*2),可在低加速/低真空下觀察時實現最高的畫質
    全新的用戶界面,無論用戶的熟練程度如何,都可實現高畫質和高處理能力
    全新的定位功能“SEM MAP”,支持觀察時的視野搜索和樣品定位
    大直徑(30毫米2)無氮EDS檢測器,可快速進行元素分析*2
    *1設置到桌面上時,請將機體與電源盒分離*2選項

    規格


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